สามารถเลือกหัววัดการเชื่อมต่อได้ตามการใช้งานการวัดหน่วยความจำความจุขนาดใหญ่สำหรับค่าที่วัดได้ 40 000 จุด หน่วยความจำเส้นโค้งการสอบเทียบสำหรับ 100 เส้น
| ข้อมูลสินค้า |
ความละเอียด (มม.): ขึ้นอยู่กับโพรบที่เชื่อมต่อ ช่วงการวัด (°C): ขึ้นอยู่กับโพรบที่เชื่อมต่อ วิธีการวัด: การสอบเทียบสองจุด กว้าง x ลึก x สูง: 72 x 30 x 156 มม. ) |
|---|---|
| วัสดุ |
|
| น้ำหนัก | 210 g |
| ประเทศที่ผลิต | Japan |
| เว็บของ Supplier | SANKO ELECTRONIC LABORATORY SWT-9300 |
| หม่วดหมู่แบรนด์ | SANKO ELECTRONIC LABORATORY |
| หม่วดหมู่สินค้า | เครื่องมือวัด / เครื่องทดสอบ เครื่องมือทดสอบ เครื่องวัดความหนาผิวเคลือบ / ออสซิโลสโคป เครื่องวัดความหนาผิวเคลือบ / ออสซิโลสโคป |
สินค้าที่คล้ายกัน
สอบถามข้อมูลสินค้า
สินค้าแนะนำ
แบรนด์แนะนำ
